Revista Integración (Aug 2017)

Puntos críticos y simetrías en problemas elípticos

  • Jaime Arango,
  • Juan Jiménez,
  • Andrés Salazar

DOI
https://doi.org/10.18273/revint.v35n1-2017001
Journal volume & issue
Vol. 35, no. 1

Abstract

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Se estima una cota superior para el número de puntos críticos de la solución de un problema semilineal elíptico con condición de Dirichlet nula en el borde de un dominio planar. El resultado se obtiene en dominios simétricos con respecto a una recta y convexos en la dirección ortogonal a la misma. MSC2010: 35J25, 35J91, 74K15.

Keywords