ACS Omega (Nov 2023)
Polyfluorinated Naphthalene-bis-hydrazimide for Solution-Grown n‑Type Semiconducting Films
- Marco Zambra,
- Vincenzo Mirco Abbinante,
- Gonzalo García-Espejo,
- Konstantis F. Konidaris,
- Pietro Anzini,
- Candida Pipitone,
- Francesco Giannici,
- Mattia Scagliotti,
- Matteo Rapisarda,
- Luigi Mariucci,
- Silvia Milita,
- Antonietta Guagliardi,
- Norberto Masciocchi
Affiliations
- Marco Zambra
- Department of Science and High Technology and To.Sca.Lab, University of Insubria and INSTM, Como, Italy
- Vincenzo Mirco Abbinante
- Department of Science and High Technology and To.Sca.Lab, University of Insubria and INSTM, Como, Italy
- Gonzalo García-Espejo
- Department of Science and High Technology and To.Sca.Lab, University of Insubria and INSTM, Como, Italy
- Konstantis F. Konidaris
- Department of Science and High Technology and To.Sca.Lab, University of Insubria and INSTM, Como, Italy
- Pietro Anzini
- Department of Science and High Technology and To.Sca.Lab, University of Insubria and INSTM, Como, Italy
- Candida Pipitone
- Dipartimento di Fisica e Chimica “Emilio Segrè”, Università di Palermo, Palermo, Italy
- Francesco Giannici
- Dipartimento di Fisica e Chimica “Emilio Segrè”, Università di Palermo, Palermo, Italy
- Mattia Scagliotti
- Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - Consiglio Nazionale delle Ricerche, Roma, Italy
- Matteo Rapisarda
- Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - Consiglio Nazionale delle Ricerche, Roma, Italy
- Luigi Mariucci
- Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - Consiglio Nazionale delle Ricerche, Roma, Italy
- Silvia Milita
- Istituto per la Microelettronica e Microsistemi, Consiglio Nazionale delle Ricerche, Bologna, Italy
- Antonietta Guagliardi
- Istituto di Cristallografia and To.Sca.Lab, Consiglio Nazionale delle Ricerche, Como, Italy
- Norberto Masciocchi
- Department of Science and High Technology and To.Sca.Lab, University of Insubria and INSTM, Como, Italy
- DOI
- https://doi.org/10.1021/acsomega.3c05172
- Journal volume & issue
-
Vol. 8,
no. 46
pp. 43651 – 43663
Abstract
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