Revista de Teledetección (Jun 2020)

Caracterización de minerales de arcilla y óxidos de hierro mediante espectroscopía de reflectancia difusa (VNIR–SWIR)

  • A. Báscones,
  • M. Suárez,
  • M. Ferrer-Julià,
  • E. García-Meléndez,
  • E. Colmenero-Hidalgo,
  • A. Quirós

DOI
https://doi.org/10.4995/raet.2020.13331
Journal volume & issue
Vol. 0, no. 55
pp. 49 – 57

Abstract

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Se ha realizado el análisis mineralógico a través de las propiedades espectrales desarrolladas por muestras de suelos y sedimentos del borde noroccidental de la Cuenca del Duero. Las absorciones producidas por los óxidos y oxihidróxidos de hierro (hematites y goethita, principalmente) están localizadas en zonas del VNIR (400-1200 nm), mientras que las bandas de absorción presentes en los espectros del SWIR (1200-2500 nm) están relacionadas con la composición química de minerales arcillosos. Los espectros de reflectancia medidos en laboratorio han sido normalizados aplicando los métodos del Continuum Removal (CR) y la segunda derivada (SD). Este último puede resolver la superposición de bandas al cuantificar sutiles inflexiones de la curva. Esto ha permitido examinar las bandas de absorción por separado midiendo los parámetros geométricos desarrollados en ellas. La proporción de los minerales influye en la respuesta espectral y, por tanto, en los valores de los parámetros. Se han realizado correlaciones lineales entre estos valores y la proporción de las diferentes fases minerales obtenidas por difracción de rayos X. De los parámetros estudiados, la correlación entre la posición del centro de banda (BC) en la máxima absorción alrededor de longitudes de onda de 890-960 nm y la profundidad del rasgo de absorción a 470 nm (D470) ha permitido realizar una estimación relativa de la proporción de hematites/goethita. En cuanto a la distribución de los diferentes minerales de arcilla, se ha podido establecer una correlación entre la proporción de caolinita y la profundidad de las bandas de absorción a 1415 y 2210 nm, y en los rasgos de absorción cercanos a 1390 y 2160 nm, analizados en SD.

Keywords