色谱法测定四氯化硅中微量硅-氢键化合物

Abstract

<正> 光通信研究中,光纤含氢氧基量,对光的衰耗有着极为严重的影响。作为制作光纤的主要原料（四氯化硅）中存在的含氢化合物是氢氧基形成的重要原因之一。因此研究含氢化合物的测定方法,便成为光通信研究中的一个重要课题。文献虽对色谱法测定四氯化硅中含氢化合物的测定方法有过报导,但要求的条件很严,对仪器也有腐蚀问题,加之测定灵敏度也不理想,故有必要研究新的测定方法。