Aplicación del método de Rietveld al análisis cuantitativo SiC sinterizado en fase líquida

Abstract

Accurate X-ray quantitative analysis in SiC-based ceramics is a difficult task owing to the strong overlap among the Bragg reflections of the different polytypes. In relation to this point, the Rietveld method can be used as a powerful tool in order to solve this problem. In this study we have applied this procedure to determine the weight fractions of the phases in a liquid– phase-sintered SiC sample. It is shown that the consideration of preferred orientation effects is also indispensable to obtain the accurate proportion of the phases.<br><br>La determinación de las fracciones en peso de las fases mediante difracción de rayos X es enormemente complicada en cerámicos a base de SiC debido al intenso solapamiento entre las reflexiones Bragg de los diferentes politipos. No obstante, el método de Rietveld constituye una herramienta poderosa para resolver este problema. En este trabajo se utiliza el método de Rietveld al objeto de determinar las fracciones en peso de las diferentes fases para una muestra de SiC sinterizado en fase líquida (LPS SiC). Nuestros resultados ponen también de manifiesto la necesidad de incorporar correcciones debidas a orientación preferencial para efectuar un análisis cuantitativo preciso.

Keywords

• Rietveld method
• X-ray diffraction
• quantitative analysis
• silicon carbide
• liquid phase sintering
• Método de Rietveld
• difracción de rayos X
• análisis cuantitativo
• carburo de silicio
• sinterización en fase líquida