Guangtongxin yanjiu (Jan 2016)
单模光纤宏弯损耗理论与实验研究
Abstract
对单模光纤宏弯损耗进行了理论分析与实验测量,选取D.Marcuse、H.Renner和L.Faustini的理论公式模拟分析了康宁公司SMF28单模光纤的宏弯损耗,并与测量结果进行了对比。结果表明:根据D.Marcuse公式模拟的结果无法预测SMF28光纤宏弯损耗随弯曲半径变化而振荡的趋势,H.Renner的公式能够预测这种趋势,但模拟结果与测量结果差别较大,最大相对误差为57.8%,L.Faustini的公式也能模拟该趋势,且模拟结果与测量结果差别较小,最大相对误差仅为19.6%,是一种较为准确的计算带涂覆层单模光纤宏弯损耗的理论公式。