Модель накопичення пошкоджень інтегральними елементами інформаційних систем при поліімпульсному впливі наносекундної тривалості

Abstract

В статті розглядається вплив послідовності імпульсних випромінювань наносекундної тривалості на чутливі елементи приймального тракту інформаційних систем. Отримано залежність, що дозволяє визначити максимальну кількість енергії, розсіяної в напівпровідникових структурах, при впливі n-ї кількості імпульсів.

Keywords

• потужні електромагнітні випромінювання
• поліімпульсний вплив
• інтегральні мікросхеми
• деградаційні ефекти
• модель накопичення пошкоджень