Depth Dependence of Electron Channeling Contrast Imaging in Gallium Nitride

• Lavallee Etienne,
• Guitton Antoine,
• Imrich Peter,
• Chisholm Claire

Affiliations

Lavallee Etienne

KAI Kompetenzzentrum Automobil-und Industrieelektronik GmbH

Guitton Antoine

Université de Lorraine, CNRS, Arts et Métiers

Imrich Peter

KAI Kompetenzzentrum Automobil-und Industrieelektronik GmbH

Chisholm Claire

KAI Kompetenzzentrum Automobil-und Industrieelektronik GmbH