Caracterização estrutural da cerâmica Ti x(Sm0,2Ce0,8)1-xO 2-delta pelo método de Rietveld Structural study of Ti x(Sm0.2Ce0.8 )1-xO2-delta ceramic by the Rietveld method

Abstract

O método precursor polimérico foi aplicado para a síntese de pós de Ti x(Sm0,2Ce0,8)1 xO2-delta, com 0 Powders of Ti x(Sm0.2Ce0.8)1-xO 2-delta, 0 0.20) the rutile phase precipitates. At the same time the samarium titanate content decreases and samarium migrates into the cerianite phase. These phenomena can be proved by the increase in lattice parameters.

Keywords

• difração de raios X
• método de Rietveld
• X-ray diffraction
• Rietveld method