Revista Técnica de la Facultad de Ingeniería ()
Comparación entre el modelaje y simulación del flickermetro de la norma IEC-61000-4-15 mediante la Transformada de Ondícula Discreta y mediante la Transformada Rápida de Fourier
Abstract
La fluctuación de voltaje es la primera causa del efecto lumínico flicker. Algunas definiciones y estándares han sido propuestos para medir el grado del flicker. Los estándares definen niveles de flicker admisibles en función de la frecuencia. Algoritmos basados sobre la Transformada Rápida de Fourier han sido ampliamente usados en el análisis digital del voltaje flicker. En la última década se ha usado la Transformada de Ondícula en muchos tópicos sobre sistemas eléctricos de potencia. Las aplicaciones han sido enfocadas principalmente en la clasificación de perturbaciones de la calidad de potencia. El análisis ondícula ha sido usado en el análisis de señales en régimen permanente. En este sentido la Transformada de Ondícula ha sido usada en la identificación de armónicos, subarmónicos e interarmónicos. También se ha usado las ondículas de Morlet y la Gaussiana en el cálculo del espectro de la señal flicker. Este cálculo sería crucial en la determinación del índice de severidad del flicker en tiempo corto (Pst) del estándar IEC-61000-4-15. El objetivo de este trabajo es el cálculo del índice de severidad del flicker a corto plazo (Pst) de la norma IEC-61000-4-15 mediante la Transformada de Ondícula Discreta y mediante la Transformada Rápida de Fourier con la finalidad de comparar resultados.
