Jurnal Kimia Riset (Jun 2017)
Silika pada Togkol Jagung yang Dikarakterisasi Menggunakan Spektroskopi Infra Merah dan Difraksi Sinar-X
Abstract
Penelitian ini dilakukan untuk mengisolasi silika pada tongkol jagung menggunakan HCl dengan variasi suhu perendaman. Silika yang diperoleh dikarakterisasi ikatan dan strukturnya menggunakan spektroskopi infra merah dan difraksi sinar-X. Silika dari serbuk tongkol jagung diperoleh dengan cara nontermal melalui perendaman dengan HCl pada suhu kamar dan suhu 60˚C selama 3 jam dan cara termal melalui pembakaran pada suhu 800˚C. Silika yang diperoleh dikarakterisasi ikatannya dan diperoleh pita serapan karakteristik silika muncul pada bilangan gelombang 1101, 794, dan 468 cm-1. Struktur silika yang dikarakterisasi menggunakan difraktometer sinar-X menunjukkan fase amorf silika pada 2θ˚ = 21 - 25ᵒ dan mulai terbentuk fase kristalin pada 2θ˚ = 26ᵒ. Kata Kunci : silika dari tongkol jagung, spektra FT-IR, difraktogram XRD