Structural characterization of liquid phase sintered silicon carbide by high-resolution X-ray diffractometry Caracterização estrutural do carbeto de silício sinterizado na presença de fase líquida por difratometria de raios X de alta resolução

Abstract

Silicon carbide (SiC) was sintered using two different additives: AlN-Y2O3 or AlN-CRE2O3. CRE2O3 is a mixed oxide formed by Y2O3 and rare-earth oxides. The crystalline structures of the phases were analyzed by high-resolution X-ray diffraction using synchrotron light source. The results of the Rietveld refinement of the mixed oxide show a solid solution formation. In both silicon carbide samples prepared using AlN-Y2O3 or AlN-CRE2O3 3C (beta-phase) and 6H (alpha-phase) polytypes were found. The structural and microstructural results for both samples were similar. This is an indication of the viability of the use of CRE2O3 in substitution for Y2O3 as additive to obtain dense materials.Amostras de carbeto de silício (SiC) foram sinterizadas com dois aditivos: AlN-Y2O3 ou AlN-CRE2O3. CRE2O3 é um óxido misto formado por Y2O3 e óxidos de terras raras. A estrutura cristalina das fases nas amostras foi analisada através de difração de raios X de alta resolução com fonte de luz síncrotron. Os resultados de refinamento do óxido misto pelo método de Rietveld mostraram a formação de uma solução sólida. Em ambas as amostras preparadas usando AlN- Y2O3 ou AlN- CRE2O3 foram detectados politipos 3C (fase beta) e 6H (fase alfa). Os resultados estruturais e microestruturais das duas amostras mostraram-se similares. Esta é uma indicação da viabilidade do uso de CRE2O3 em substituição a Y2O3 como aditivo para a obtenção de materiais cerâmicos densos.

Keywords

• SiC
• fase líquida
• difração de raios X
• síncrotron
• método de Rietveld
• SiC
• liquid phase
• X-ray diffraction
• synchrotron
• Rietveld method