AIP Advances
(Jul 2019)
Publisher’s Note: “Aluminum acceptor activation and charge compensation in implanted p-type 4H-SiC” [AIP Advances 9, 055308 (2019)]
- J. Weiße,
- M. Hauck,
- M. Krieger,
- A. J. Bauer,
- T. Erlbacher
Affiliations
- J. Weiße
- Chair of Electron Devices, Friedrich-Alexander University Erlangen-Nürnberg (FAU), Cauerstrasse 6, 91058 Erlangen, Germany
- M. Hauck
- Lehrstuhl für Angewandte Physik, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), Staudtstrasse 7, 91058 Erlangen, Germany
- M. Krieger
- Lehrstuhl für Angewandte Physik, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), Staudtstrasse 7, 91058 Erlangen, Germany
- A. J. Bauer
- Fraunhofer Institute of Integrated Systems and Device Technology, Schottkystrasse 10, 91058 Erlangen, Germany
- T. Erlbacher
- Fraunhofer Institute of Integrated Systems and Device Technology, Schottkystrasse 10, 91058 Erlangen, Germany
- DOI
-
https://doi.org/10.1063/1.5118666
- Journal volume & issue
-
Vol. 9,
no. 7
pp.
079901
– 079901-1
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