Development of a pixelated STEM-in-SEM detector for microstructural features characterization

• Aubourg Julien,
• Bouzy Emmanuel,
• Guitton Antoine,
• Fundenberger Jean-Jacques,
• Zhang Yudong,
• Guyon Julien,
• Morhain Luc

Affiliations

Aubourg Julien

JEOL (Europe) SAS

Bouzy Emmanuel

Laboratoire d’Etude des Microstructures et de Mécanique des Matériaux (LEM3), Université de Lorraine, CNRS UMR 7239

Guitton Antoine

Laboratoire d’Etude des Microstructures et de Mécanique des Matériaux (LEM3), Université de Lorraine, CNRS UMR 7239

Fundenberger Jean-Jacques

Laboratoire d’Etude des Microstructures et de Mécanique des Matériaux (LEM3), Université de Lorraine, CNRS UMR 7239

Zhang Yudong

Laboratoire d’Etude des Microstructures et de Mécanique des Matériaux (LEM3), Université de Lorraine, CNRS UMR 7239

Guyon Julien

Laboratoire d’Etude des Microstructures et de Mécanique des Matériaux (LEM3), Université de Lorraine, CNRS UMR 7239

Morhain Luc

Laboratoire d’Etude des Microstructures et de Mécanique des Matériaux (LEM3), Université de Lorraine, CNRS UMR 7239