Utilidad de la difracción de rayos x en las nanociencias
Martha Eloísa Aparicio Ceja,
Gregorio Guadalupe Carbajal Arizaga
Affiliations
Martha Eloísa Aparicio Ceja
Centro de Nanociencias y Nanotecnología. Universidad Nacional Autónoma de México. Apdo. Postal 14, CP 22800. Ensenada, Baja California, México. Teléfono: +52 (646) 174 46 02. Fax: +52 (646) 174 46 03.
Gregorio Guadalupe Carbajal Arizaga
Centro de Nanociencias y Nanotecnología. Universidad Nacional Autónoma de México. Apdo. Postal 14, CP 22800. Ensenada, Baja California, México. Teléfono: +52 (646) 174 46 02. Fax: +52 (646) 174 46 03.
Resumen: La difracci.n de rayos x (DRX) es una herramienta que se ha utilizado durante el último siglo para el estudio de minerales, compuestos y materiales. Las nanociencias descubrieron que en dimensiones nanométricas, materiales antes conocidos muestran nuevos fenómenos y propiedades. Esto llevó a que se aplicaran técnicas de caracterización en estado sólido tradicionales, como la DRX a sistemas nanométricos. En este trabajo recopilamos casos publicados principalmente en América Latina en los que la DRX ayuda resolver problemas en la escala nano.
