اپتوالکترونیک (Nov 2016)
ساخت و بررسی خواص فیزیکی و مقاومت الکتریکی نانوسیم‌های اکسید روی
Abstract
در این مقاله، نانوسیم‌های اکسید روی درون قالب نانوحفره‌ای آلومینای آندایز شده به روش آندایز دو مرحله‌ای سنتز شدند. ویژگی‌های فیزیکی نانوسیم‌های اکسید روی با استفاده از تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی، طیف پراکندگی پرتو ایکس و طیف‌سنجی پراش انرژی پرتو ایکس و همچنین تغییرات مقاومت الکتریکی با دما توسط سامانه طراحی شده، مورد بررسی قرار گرفت. نتایج نشان می‌دهد که نانوسیم‌های اکسید روی دارای قطر 66 نانومتر و طول یک تا شش میکرومتر است و طبق طیف‌سنجی‌های انجام شده، نانوسیم‌های اکسید روی دارای ساختار شش گوشی ورتزایت با خلوص بالا هستند. همچنین مقاومت الکتریکی نانوسیم‌ها با دما تغییر می‌کند، به طوری‌که با افزایش دما، جریان عبوری از نانوسیم‌های اکسید روی افزایش یافته، در حالی‌که مقاومت الکتریکی کاهش می‌یابد.
