Porous Silicon Gas Sensors: The Role of the Layer Thickness and the Silicon Conductivity
Francisco Ramírez-González,
Godofredo García-Salgado,
Enrique Rosendo,
Tomás Díaz,
Fabiola Nieto-Caballero,
Antonio Coyopol,
Román Romano,
Alberto Luna,
Karim Monfil,
Erick Gastellou
Affiliations
Francisco Ramírez-González
Centro de Investigación en Dispositivos Semiconductores, Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, 14 sur y Av. San Claudio, Puebla 72570, Mexico
Godofredo García-Salgado
Centro de Investigación en Dispositivos Semiconductores, Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, 14 sur y Av. San Claudio, Puebla 72570, Mexico
Enrique Rosendo
Centro de Investigación en Dispositivos Semiconductores, Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, 14 sur y Av. San Claudio, Puebla 72570, Mexico
Tomás Díaz
Centro de Investigación en Dispositivos Semiconductores, Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, 14 sur y Av. San Claudio, Puebla 72570, Mexico
Fabiola Nieto-Caballero
Facultad de Ciencias Químicas, Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, 14 sur y Av. San Claudio, Puebla 72570, Mexico
Antonio Coyopol
Centro de Investigación en Dispositivos Semiconductores, Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, 14 sur y Av. San Claudio, Puebla 72570, Mexico
Román Romano
Centro de Investigación en Dispositivos Semiconductores, Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, 14 sur y Av. San Claudio, Puebla 72570, Mexico
Alberto Luna
Centro de Investigación en Dispositivos Semiconductores, Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, 14 sur y Av. San Claudio, Puebla 72570, Mexico
Karim Monfil
Centro de Investigación en Dispositivos Semiconductores, Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, 14 sur y Av. San Claudio, Puebla 72570, Mexico
Erick Gastellou
División de Tecnologías de la Información y Comunicación, Universidad Tecnológica de Puebla, Antiguo Camino a La Resurrección 1002-A, Zona Industrial, Puebla 72300, Mexico
We studied the influences of the thickness of the porous silicon layer and the conductivity type on the porous silicon sensors response when exposed to ethanol vapor. The response was determined at room temperature (27 ∘C) in darkness using a horizontal aluminum electrode pattern. The results indicated that the intensity of the response can be directly or inversely proportional to the thickness of the porous layer depending on the conductivity type of the semiconductor material. The response of the porous sensors was similar to the metal oxide sensors. The results can be used to appropriately select the conductivity of semiconductor materials and the thickness of the porous layer for the target gas.