Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio (Apr 2004)
Determinación de las constantes ópticas y el espesor de materiales holográficos
Abstract
A technique to evaluate the refractive index, the absorption coefficient and the thickness of holographic recording materials is presented. The materials are in the form of a thin layer of film deposited on a thick glass plate. The experimental reflectances of p-polarized light are measured as a function of the incident angle, and the values of refractive index, thickness and absorption coefficient of the layer are obtained using the theoretical equation for reflectance. As examples, holographic silver halide emulsions and photopolymers are analyzed. The agreement between the calculated reflectances, using the thickness and refractive index obtained, and the measured reflectances is satisfactory.<br><br>Se presenta una técnica experimental para determinar el índice de refracción, el coeficiente de absorción y el espesor de materiales de registro holográfico. Los materiales están depositados como capas finas sobre una lámina planoparalela de vidrio. Se determina experimentalmente la reflectancia en función del ángulo de incidencia para luz polarizada linealmente paralela al plano de incidencia, de modo que los valores del índice de refracción, el coeficiente de absorción y el espesor se obtienen ajustando la ecuación de la reflectancia teórica a los datos experimentales. Como ejemplos se han analizado emulsiones fotográficas y fotopolímeros, obteniéndose un buen ajuste entre la función teórica y los datos experimentales.
