Cálculo de la incertidumbre estándar mediante la técnica de Monte Carlo para la medición de la topografía y del campo de desplazamiento mediante ESPI

Abstract

La ventaja del uso de las técnicas interferométricas basados en el patrón de moteado ESPI (electronic speckle pattern interferometry) es única ya que se pueden hacer mediciones muy precisas de los campos de desplazamientos que ocurren en la superficie de algún elemento mecánico cuando se deforma. Sin embargo, cuando se utiliza la iluminación divergente, se observa que la medición de los campos de desplazamientos está en función de la topografía del objeto. Por tal motivo, antes de evaluar las deformaciones mecánicas por la técnica ESPI con iluminación divergente es necesario conocer la topografía del objeto. La estimación de la incertidumbre estándar de las mediciones de los campos de desplazamiento debe de contemplar la incertidumbre de las mediciones de la topografía que se propaga debido a la ley generalizada de la propagación de la incertidumbre. En este trabajo se muestra el uso de la técnica de Monte Carlo para el cálculo de la incertidumbre estándar para la las mediciones de los campos de desplazamiento y la topografía de superficie de objetos mediante la técnica de interferometría electrónica del patrón de moteado con iluminación dual y divergente.

Keywords

• Interferometría del patrón de moteado
• ESPI
• incertidumbre estándar
• Monte Carlo