Evaluación de la fiabilidad de microprocesadores COTS mediante las infraestructuras de depuración On-Chip

Abstract

Este artículo presenta una herramienta de inyección de fallos y la metodología para la realización de campañas de inyección de Single-Event-Upsets (SEUs) en microprocesadores Commercial-off-the-shelf (COTS). Este método utiliza las ventajas que ofrecen las infraestructuras de depuración de los microprocesadores actuales, además del depurador estándar de GNU (GDB) para la ejecución y depuración de los programas de pruebas. Los experimentos desarrollados sobre microprocesadores reales, así como en las máquinas virtuales, demuestran la viabilidad y la flexibilidad de la propuesta como una solución de bajo costo para evaluar la fiabilidad de los microprocesadores COTS

Keywords

• commercial-off-the-shelf (cots)
• depuración integrada en el chip
• efectos de la radiación
• fiabilidad de microprocesadores
• inyección de fallos
• errores lógicos