Revista de Química (Sep 2020)
Textura y Estrés: las aplicaciones olvidadas de la Difracción de Rayos X en materiales
Abstract
La cristalografía de rayos X resulta una técnica analítica fundamental para el estudio exhaustivo de la estructura cristalina de los materiales. A pesar de su enorme relevancia tanto a nivel científico como industrial, su cobertura respecto a análisis avanzados ha sido insuficiente hasta ahora. Por lo tanto, en este trabajo mostramos diferentes posibilidades de la difracción de rayos X, muy útil para obtener en algunos casos información crítica de nuestros materiales.
