Caracterización mineralógica de materias primas cerámicas por métodos cuantitativos de difracción de rayos x

Abstract

The aim of this work is to characterize mineral phases present in raw material employed in the ceramics industry. In this way, two quantitative X-ray diffraction methods have been used, the Rietveld and the standardless methods have been used. The results obtained by X-ray diffraction of these polycrystalline materials are compared with the corresponding chemical analyses and calculated normative composition. Precision and reproducibility of obtained results, in agreement with chemical analysis, are one of the most important advantage of quantitative X-ray diffractometry, as well as do easy their employ in the ceramic industry to control mineral phases present in raw materials.<br><br>El objetivo de este trabajo es la caracterización de fases minerales presentes en materias primas utilizadas en la industria cerámica. Para ello se utilizan dos métodos cuantitativos basados en la difracción de rayos X, el método de Rietveld y un método sin estándar. Los resultados obtenidos por difracción rayos X de estos materiales policristalinos se comparan con los correspondientes análisis químicos y la composición normativa calculada. La precisión y reproducibilidad de los resultados obtenidos, en concordancia con los del análisis químico, son una de las más importantes ventajas de la difractometría cuantitativa que facilitan su utilización en la industria cerámica en el control de las fases minerales presentes en las materias primas.

Keywords

• Ceramic raw materials
• quantitative X-ray diffraction
• actual and normative mineralogical compositions
• Materias primas cerámicas
• cuantitativa por difracción de rayos X
• composiciones mineralógicas reales y normativas