Метод визначення електричних параметрів діодів Шотткі

Abstract

У статті розглянуто методику визначення за ВАХ таких електричних параметрів діодів Шотткі, як висота потенціального бар'єра, коефіцієнт неідеальності, струм насичення та послідовний опір матеріалу та контактів, а також фактори, які впливають на точність визначення цих параметрів. Розглянуто існуючі методики визначення вказаних параметрів діодів Шотткі та проаналізовано їх переваги та недоліки. Представлено нову методику визначення електричних параметрів діодів Шотткі, яка має мінімальне середньоквадратичне відхилення і забезпечує більшу точність розрахунків, ніж існуючі методики.

Keywords

• діод Шотткі
• електричні параметри
• вольт-амперна характеристика
• аморфний індій-галій-оксид цинку