Interferometría óptica para medidas de traslación piezoeléctrica

Abstract

En este trabajo usamos un simple interferómetro de Michelson para caracterizar la deformación de un material piezoeléctrico en función del voltaje y la frecuencia aplicada. Se obtuvieron los parámetros de los factores de calidad del piezoeléctrico, tales como, la frecuencia de resonancia, la constante de amortiguamiento y el factor de mérito, modelando su comportamiento como un oscilador forzado.

Keywords

• Interferómetro de Michelson
• piezoelectricidad
• oscilador forzado.