Caracterização Estrutural de Argilas Utilizando DRX com Luz Síncrotron, MEV, FTIR e TG-DTG-DTA

Abstract

As argilas utilizadas nesse trabalho foram caracterizadas utilizando-se as técnicas de: difratometria de raios X (DRX) com fonte de luz síncrotron, microscopia eletrônica de varredura (MEV), microanálise por energia dispersiva de elétrons (EDS), espectroscopia vibracional (FTIR) e análise térmica simultânea (TG/DTA).

Keywords

• clays
• bentonite
• characterization
• x-ray diffraction
• synchrotron light