Cerâmica (Dec 2005)
Caracterização estrutural por difração de raios X de alta resolução de SiAlONs sinterizados com diferentes aditivos Structural characterization by high-resolution X-ray diffraction of SiAlONs sintered with different additives
Abstract
A técnica de difração de raios X de alta resolução foi utilizada para a caracterização estrutural da solução sólida, formada a partir de nitreto de silício (Si3N4), denominada alfa-SiAlON. Cerâmicas de alfa-SiAlON foram produzidas utilizando aditivos à base de AlN-Y2O3 ou AlN-CRE2O3. O óxido misto, CRE2O3, é uma solução sólida formada por Y2O3 e óxidos de terras raras. Os resultados mostraram a formação de solução sólida nos materiais sinterizados e não foi detectada segregação de óxidos utilizados como aditivos de sinterização. A similaridade das propriedades estruturais, morfológicas e mecânicas entre SiAlONs produzidos com aditivos contendo Y2O3 ou CRE2O3 indica a possibilidade de substituição do Y2O3 por CRE2O3 na produção de alfa-SiAlONs por um custo mais baixo.Solid solutions formed by silicon nitride, known as SiAlONs, were prepared using different additives, such as AlN-Y2O3 or AlN-CRE2O3. The mixed oxide CRE2O3 is a solid solution formed by Y2O3 and rare-earth oxides. The high-resolution X-ray diffraction results of the sintered material show the formation of a solid solution. No segregation of second phases was detected. The similarities of structural, morphological and mechanical properties among SiAlONs prepared from different additives containing Y2O3 or CRE2O3 show the possibility of the production of alpha-SiAlON using CRE2O3 rather than Y2O3 as additive at lower cost.
Keywords
